型号：PEMS-600
PEMS-600 高温压电测量系统PEMS-600是建立在Partulab公司九年来备受信任并经过市场考验的HDMS系列产品设计经验的基础上，为压电温谱测是重新定义了测是体系PEMS-600主要采用准静态测量原理，是一款为高温条件下测量压电
型号：FEMS
FEMS系列 薄膜铁电测量系统 FEMS系列薄膜铁电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和把美国Radiant/德国aixACCT铁电分析仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件评估铁电薄膜电学性能综合性测量系统。该系统
型号：PMS1000
PMS1000 压电温谱仪 PMS1000压电温谱仪是在中科院声学所准静态d33的基础上设计开发的，专门用于评估压电陶瓷高温特性的装置，可以直接分析得出样品压电常数d33随温度变化的压电温谱图。相对传统的d33测量仪，PMS系列压电温谱仪出
型号：DMA100
DMA100 液体介电常数分析仪 DMA100液体介电常数测试仪是按照教学研究型大学思路开发，让学生熟悉和掌握电介质材料介电性能测试方法，培养他们理论联系实际、分析问题和解决问题的能力，还可以让学生进行功能材料的研发创新；是教学研究型大学电
型号：DMS1650
DMS1650 超高温介电阻抗温谱仪 DMS1650超高温介电阻抗温谱仪是在客户一致认可的DMS1000的基础上设计开发的，主要用于电介质材料超高温电学性能研究，最高温度可达1650℃，可实现常温、高温、气氛条件下；可测量介电常数和介电损耗
型号：PCA1000
PCA1000 压电陶瓷综合参数分析仪 PCA1000系列是一款采用交流谐振法评估压电陶瓷综合性能参数的专用设备，该设备可以直观便捷的测量压电陶瓷的自由相对介电参数εr3、介电损耗tanδ、机电耦合 系数KP/K33/K31/Kt、机械品质
型号：TSC6530
TSC6530 热激励电流测量系统 TSC6530热激励电流测量系统是一款专门用于测量压电陶瓷热激烈电流的专用设备，该系统是在客户一致认可的TSC-6520的基础上升级而成，不仅可以测量压电陶瓷的热激励退极化电流TSDC，还可以测量热激励极
型号：PEAI1000
PEAI1000系列 高精度压电分析仪 PEAI1000高精度压电分析仪是一款采用动态法评估压电材料压电系数d33的专用测量设备，是继中国声学所之后的又一款高精度压电材料压电系数测量设备，**的压电材料参数分析仪采用锁相放大技术，大幅度抑制
型号：OBP
OBP系列 油浴极化仪 OBP系列油浴极化仪是针对高效实践压电陶瓷极化而研发的，设备精密小巧，操作简单快捷，适用于块体、薄膜和薄片材料的极化，通过熟练掌握和不断地优化实验制备工艺，让压电陶瓷达到**极化效果，并且广泛应用于航空航天、激光陀螺
型号：FEMS-2180
FEMS-2180 高低温铁电测量系统 FEMS-2180高低温铁电测量系统主要用于高低温、真空条件下测量材料的铁电性能，可以测量和显示铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等参数，
型号：MRVS
MRVS系列 石英管真空封管机 佰力博MRVS系列真空封管机系统主要用于实现样品的无氧无水真空密封保存和高温固相合成，整套系统由真空封管机、氢氧机、分子泵机组、石英管、管接头等组成，标准化定制石英管和石英柱保证其与特殊设计的管接头精确匹配，
型号：DMS2000
DMS2000 高低温介电阻抗温谱仪 佰力博DMS2000高低温介电阻抗温谱仪是一款专门用于高低温环境下评估电介质材料介电性能的装置，该系统采用平行板电容器原理并结合D2149-97标准设计开发，新一代介电阻抗温谱仪，不仅可以实现单样品和五
型号：RMS1000P
RMS1000P系列 高温四探针电阻率测量系统 主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研发，可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗 单晶（棒
型号：CSC
CSC系列 半导体材料电学测量系统 CSC系列半导体材料电学测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley 4200-CSC半导体参数分析集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量有机半导体器件、纳米器件及薄膜材
型号：RMS-1000S
RMS-1000S 高温半导体材料电阻率测量系统 佰力博RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，