型号：TSC6510
TSC6510 热激励电流测量系统 TSC6510热激励退极化电流测试系统是一款专门用于测量压电陶瓷退极化电流的专用设备，该系统可以用来解决压电陶瓷高压极化后，表征压电陶瓷高温退极化电流随温度变化的关系，最小空载电流可达到0.5PA，得到清
型号：VBT
VBT 耐压击穿测试仪 VBT耐压击穿测试仪是一款专门用于评估压电陶瓷介电强度的专业设备，该设备不仅可以直接测试压电陶瓷在击穿破损时的最大电压值和在正常工作时的最大电压值，还设计高压击穿隔离技术，确保设备安全可靠，广泛应用高校、科研院所，企
型号：FTSC
FTSC系列 薄膜铁电测量系统 FTSC系列薄膜热释电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley6517B高阻表集成化设计而成，是一款常温或高低温重要条件下评估薄膜TSC的电学测量系统。该系统可以实现-160
型号：TRMS-216
TRMS-216 高温热敏电阻测量系统 佰力博TRMS-216高温热敏电阻测量系统主要用于评估热敏电阻材料阻温性，该系统采用两线电阻法或三环电极法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空、气氛的条件下测量热敏电阻材料的阻温（R-T )特性、伏
型号：PMS1000
PMS1000 压电温谱仪 PMS1000压电温谱仪是在中科院声学所准静态d33的基础上设计开发的，专门用于评估压电陶瓷高温特性的装置，可以直接分析得出样品压电常数d33随温度变化的压电温谱图。相对传统的d33测量仪，PMS系列压电温谱仪出
型号：IPEMS
IPEMS系列 逆压电测量系统 IPEMS系列逆压电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和SIOS逆压电功能测量仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜或薄片逆压电材料电学综合性测量系统。该系统可以实现-160
型号：PEAI1000
PEAI1000系列 高精度压电分析仪 PEAI1000高精度压电分析仪是一款采用动态法评估压电材料压电系数d33的专用测量设备，是继中国声学所之后的又一款高精度压电材料压电系数测量设备，**的压电材料参数分析仪采用锁相放大技术，大幅度抑制
型号：DMA100
DMA100 液体介电常数分析仪 DMA100液体介电常数测试仪是按照教学研究型大学思路开发，让学生熟悉和掌握电介质材料介电性能测试方法，培养他们理论联系实际、分析问题和解决问题的能力，还可以让学生进行功能材料的研发创新；是教学研究型大学电
型号：SPD电晕
SPD电晕 单通道高压极化仪 SPD电晕单通道高压极化仪是针对高校实践压电陶瓷极化而研发的，设备精密小巧，操作简单快捷，适用于薄膜和薄片材料的极化，可以让学生熟悉和掌握压电陶瓷材料的极化方法，培养他们理论实践、分析问题和解决问题的能力，是教
型号：Mini CPS
Mini CPS 微型真空探针台 Mini CPS 系列微型真空探针台是一款专门用于材料电学表征和测量的微型桌面型电学测量台，主要用于介电、压电、铁电、热释电、光电等材料的电学性能表征和测量，还可以在真空、气氛环境下对材料进行电学测量评估，
型号：DMS1650
DMS1650 超高温介电阻抗温谱仪 DMS1650超高温介电阻抗温谱仪是在客户一致认可的DMS1000的基础上设计开发的，主要用于电介质材料超高温电学性能研究，最高温度可达1650℃，可实现常温、高温、气氛条件下；可测量介电常数和介电损耗
型号：TSC6520
TSC6520 热激励电流测量系统 TSC6520热激励电流测量系统是一款专门用于测量压电陶瓷热激烈电流的专用设备，该系统是在客户一致认可的TSC6510的基础上升级而成，不仅可以测量压电陶瓷的热激励退极化电流TSDC，还可以测量热激励极化
型号：OBP
OBP系列 油浴极化仪 OBP系列油浴极化仪是针对高效实践压电陶瓷极化而研发的，设备精密小巧，操作简单快捷，适用于块体、薄膜和薄片材料的极化，通过熟练掌握和不断地优化实验制备工艺，让压电陶瓷达到**极化效果，并且广泛应用于航空航天、激光陀螺
型号：CSC
CSC系列 半导体材料电学测量系统 CSC系列半导体材料电学测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley 4200-CSC半导体参数分析集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量有机半导体器件、纳米器件及薄膜材
型号：CPS-7000
CPS-7000 低温真空探针台 CPS-7000系列液氮/液氦低温真空探针台是Parutulab佰力博公司匠心打造的一款低温电学测量综合性平台，是一种利用液氮/液氦快速制并为半导体晶圆片、器件、材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子功能材料、超导