型号：DCS1000
DCS1000 电介质充放电测试系统 DCS1000电介质充放电测试系统是一种用于表征储能电介质材料充放电特性的试验装置，该装置能够快速测试储能电介质材料在不同电压、不同负载以及不同温度下的充放电特性，以及长期充放电寿命测试，程序直接分析给
型号：RMS-1000S
RMS-1000S 高温半导体材料电阻率测量系统 佰力博RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，
型号：TSC6510
TSC6510 热激励电流测量系统 TSC6510热激励退极化电流测试系统是一款专门用于测量压电陶瓷退极化电流的专用设备，该系统可以用来解决压电陶瓷高压极化后，表征压电陶瓷高温退极化电流随温度变化的关系，最小空载电流可达到0.5PA，得到清
型号：CSC
CSC系列 半导体材料电学测量系统 CSC系列半导体材料电学测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley 4200-CSC半导体参数分析集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量有机半导体器件、纳米器件及薄膜材
型号：FDMS
FDMS系列 薄膜介电测量系统 FDMS系列薄膜介电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Wayne Kerr阻抗分析仪集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜介电质材料的测量系统。该系统可以实现-160℃～400
型号：IPEMS
IPEMS系列 逆压电测量系统 IPEMS系列逆压电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和SIOS逆压电功能测量仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜或薄片逆压电材料电学综合性测量系统。该系统可以实现-160
型号：RMS1000P
RMS1000P系列 高温四探针电阻率测量系统 主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研发，可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗 单晶（棒
型号：CPS-7000
CPS-7000 低温真空探针台 CPS-7000系列液氮/液氦低温真空探针台是Parutulab佰力博公司匠心打造的一款低温电学测量综合性平台，是一种利用液氮/液氦快速制并为半导体晶圆片、器件、材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子功能材料、超导
型号：RMS1000C
RMS1000C 高温导电材料电阻率测量系统 RMS1000C高温导电材料电阻率测量系统主要用于导电材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电
型号：FEMS
FEMS系列 薄膜铁电测量系统 FEMS系列薄膜铁电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和把美国Radiant/德国aixACCT铁电分析仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件评估铁电薄膜电学性能综合性测量系统。该系统
型号：FTSC
FTSC系列 薄膜铁电测量系统 FTSC系列薄膜热释电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley6517B高阻表集成化设计而成，是一款常温或高低温重要条件下评估薄膜TSC的电学测量系统。该系统可以实现-160
型号：Mini CPS
Mini CPS 微型真空探针台 Mini CPS 系列微型真空探针台是一款专门用于材料电学表征和测量的微型桌面型电学测量台，主要用于介电、压电、铁电、热释电、光电等材料的电学性能表征和测量，还可以在真空、气氛环境下对材料进行电学测量评估，
型号：DMA100
DMA100 液体介电常数分析仪 DMA100液体介电常数测试仪是按照教学研究型大学思路开发，让学生熟悉和掌握电介质材料介电性能测试方法，培养他们理论联系实际、分析问题和解决问题的能力，还可以让学生进行功能材料的研发创新；是教学研究型大学电
型号：TRMS-216
TRMS-216 高温热敏电阻测量系统 佰力博TRMS-216高温热敏电阻测量系统主要用于评估热敏电阻材料阻温性，该系统采用两线电阻法或三环电极法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空、气氛的条件下测量热敏电阻材料的阻温（R-T )特性、伏
型号：PCA1000
PCA1000 压电陶瓷综合参数分析仪 PCA1000系列是一款采用交流谐振法评估压电陶瓷综合性能参数的专用设备，该设备可以直观便捷的测量压电陶瓷的自由相对介电参数εr3、介电损耗tanδ、机电耦合 系数KP/K33/K31/Kt、机械品质