型号：DMA100
DMA100 液体介电常数分析仪 DMA100液体介电常数测试仪是按照教学研究型大学思路开发，让学生熟悉和掌握电介质材料介电性能测试方法，培养他们理论联系实际、分析问题和解决问题的能力，还可以让学生进行功能材料的研发创新；是教学研究型大学电
型号：FEMS-2160
FEMS-2160 高温铁电测量系统 FEMS-2160高温铁电测量系统主要用于高温、真空条件下测量材料的铁电性能，可以测量和显示铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等参数，能够较
型号：TSC6530
TSC6530 热激励电流测量系统 TSC6530热激励电流测量系统是一款专门用于测量压电陶瓷热激烈电流的专用设备，该系统是在客户一致认可的TSC-6520的基础上升级而成，不仅可以测量压电陶瓷的热激励退极化电流TSDC，还可以测量热激励极
型号：PEAI1000
PEAI1000系列 高精度压电分析仪 PEAI1000高精度压电分析仪是一款采用动态法评估压电材料压电系数d33的专用测量设备，是继中国声学所之后的又一款高精度压电材料压电系数测量设备，**的压电材料参数分析仪采用锁相放大技术，大幅度抑制
型号：TSC6520
TSC6520 热激励电流测量系统 TSC6520热激励电流测量系统是一款专门用于测量压电陶瓷热激烈电流的专用设备，该系统是在客户一致认可的TSC6510的基础上升级而成，不仅可以测量压电陶瓷的热激励退极化电流TSDC，还可以测量热激励极化
型号：RMS1000P
RMS1000P系列 高温四探针电阻率测量系统 主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研发，可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗 单晶（棒
型号：RMS-1000S
RMS-1000S 高温半导体材料电阻率测量系统 佰力博RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，
型号：CPS-7000
CPS-7000 低温真空探针台 CPS-7000系列液氮/液氦低温真空探针台是Parutulab佰力博公司匠心打造的一款低温电学测量综合性平台，是一种利用液氮/液氦快速制并为半导体晶圆片、器件、材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子功能材料、超导
型号：DMS-500
DMS-500 教学研究型介电温谱仪 佰力博新推出的DMS-500系列教学研究型介电温谱仪添补了目前高校实践教学环节的空白，与以往的教学型设备不同，DMS-500系列教学研究型介电温谱仪按照是教学研究型大学思路开发的，可以让学生熟悉和掌握功
型号：PCA1000
PCA1000 压电陶瓷综合参数分析仪 PCA1000系列是一款采用交流谐振法评估压电陶瓷综合性能参数的专用设备，该设备可以直观便捷的测量压电陶瓷的自由相对介电参数εr3、介电损耗tanδ、机电耦合 系数KP/K33/K31/Kt、机械品质
型号：RMS1650
RMS1650 超高温电阻率测量系统 RMS1650超高温电阻率测量系统主要用于评估测量绝缘材料电学性能，该系统采用三环电极法设计原理并获得一种绝缘材料电阻率测量夹具的专利(专利号2019204134342)，绝缘材料在高温下电阻和电阻率实
型号：FTSC
FTSC系列 薄膜铁电测量系统 FTSC系列薄膜热释电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley6517B高阻表集成化设计而成，是一款常温或高低温重要条件下评估薄膜TSC的电学测量系统。该系统可以实现-160
型号：RMS1000C
RMS1000C 高温导电材料电阻率测量系统 RMS1000C高温导电材料电阻率测量系统主要用于导电材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电
型号：RMS1000I
RMS1000I系列 阻温特性测试系统 RMS1000I系列阻温特性测试系统是一款专门用于评估材料导电性能的装置，该系统不仅可以精确评估压电陶瓷的导电性能，还可以评估压电陶瓷在高温、空气、流动气 氛、真空气氛等条件下电阻率随温度、时间变化的
型号：SPD电晕
SPD电晕 单通道高压极化仪 SPD电晕单通道高压极化仪是针对高校实践压电陶瓷极化而研发的，设备精密小巧，操作简单快捷，适用于薄膜和薄片材料的极化，可以让学生熟悉和掌握压电陶瓷材料的极化方法，培养他们理论实践、分析问题和解决问题的能力，是教