型号：RMS1000P
RMS1000P系列 高温四探针电阻率测量系统 主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研发，可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗 单晶（棒
型号：FEMS-2160
FEMS-2160 高温铁电测量系统 FEMS-2160高温铁电测量系统主要用于高温、真空条件下测量材料的铁电性能，可以测量和显示铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等参数，能够较
型号：MRVS
MRVS系列 石英管真空封管机 佰力博MRVS系列真空封管机系统主要用于实现样品的无氧无水真空密封保存和高温固相合成，整套系统由真空封管机、氢氧机、分子泵机组、石英管、管接头等组成，标准化定制石英管和石英柱保证其与特殊设计的管接头精确匹配，
型号：FTSC
FTSC系列 薄膜铁电测量系统 FTSC系列薄膜热释电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley6517B高阻表集成化设计而成，是一款常温或高低温重要条件下评估薄膜TSC的电学测量系统。该系统可以实现-160
型号：FEMS
FEMS系列 薄膜铁电测量系统 FEMS系列薄膜铁电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和把美国Radiant/德国aixACCT铁电分析仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件评估铁电薄膜电学性能综合性测量系统。该系统
型号：CSC
CSC系列 半导体材料电学测量系统 CSC系列半导体材料电学测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley 4200-CSC半导体参数分析集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量有机半导体器件、纳米器件及薄膜材
型号：RMS1650
RMS1650 超高温电阻率测量系统 RMS1650超高温电阻率测量系统主要用于评估测量绝缘材料电学性能，该系统采用三环电极法设计原理并获得一种绝缘材料电阻率测量夹具的专利(专利号2019204134342)，绝缘材料在高温下电阻和电阻率实
型号：DCS1000
DCS1000 电介质充放电测试系统 DCS1000电介质充放电测试系统是一种用于表征储能电介质材料充放电特性的试验装置，该装置能够快速测试储能电介质材料在不同电压、不同负载以及不同温度下的充放电特性，以及长期充放电寿命测试，程序直接分析给
型号：TPD
TPD系列 单通道高温极化仪 TPD单通道高温极化仪是针对压电陶瓷纤维材料设计的高温极化仪，以空气为绝缘媒质，最高温度可达600℃，进行高温空气极化，设备安全可靠，小巧方便，集成化设计，操作方便快捷，广泛应用于高校及从事压电材料研究或生产的
型号：FDMS
FDMS系列 薄膜介电测量系统 FDMS系列薄膜介电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Wayne Kerr阻抗分析仪集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜介电质材料的测量系统。该系统可以实现-160℃～400