型号：ARVS
ARVS系列 全自动生物菌种真空封管机 ARVS系列全自动生物菌种真空封管机是针对玻璃试管实现高温熔封以及自动取放料的自动化设备，整套系统由高精度模组取放料系统、旋转真空吸取系统、电解水氢氧焰加热熔封系统、人机交互自动化控制系统组成，为实验
型号：VBT
VBT 耐压击穿测试仪 VBT耐压击穿测试仪是一款专门用于评估压电陶瓷介电强度的专业设备，该设备不仅可以直接测试压电陶瓷在击穿破损时的最大电压值和在正常工作时的最大电压值，还设计高压击穿隔离技术，确保设备安全可靠，广泛应用高校、科研院所，企
型号：RMS1000C
RMS1000C 高温导电材料电阻率测量系统 RMS1000C高温导电材料电阻率测量系统主要用于导电材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电
型号：PEMS-600
PEMS-600 高温压电测量系统PEMS-600是建立在Partulab公司九年来备受信任并经过市场考验的HDMS系列产品设计经验的基础上，为压电温谱测是重新定义了测是体系PEMS-600主要采用准静态测量原理，是一款为高温条件下测量压电
型号：OBP
OBP系列 油浴极化仪 OBP系列油浴极化仪是针对高效实践压电陶瓷极化而研发的，设备精密小巧，操作简单快捷，适用于块体、薄膜和薄片材料的极化，通过熟练掌握和不断地优化实验制备工艺，让压电陶瓷达到**极化效果，并且广泛应用于航空航天、激光陀螺
型号：RMS-1000S
RMS-1000S 高温半导体材料电阻率测量系统 佰力博RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，
型号：FEMS
FEMS系列 薄膜铁电测量系统 FEMS系列薄膜铁电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和把美国Radiant/德国aixACCT铁电分析仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件评估铁电薄膜电学性能综合性测量系统。该系统
型号：PCA1000
PCA1000 压电陶瓷综合参数分析仪 PCA1000系列是一款采用交流谐振法评估压电陶瓷综合性能参数的专用设备，该设备可以直观便捷的测量压电陶瓷的自由相对介电参数εr3、介电损耗tanδ、机电耦合 系数KP/K33/K31/Kt、机械品质
型号：Mini CPS
Mini CPS 微型真空探针台 Mini CPS 系列微型真空探针台是一款专门用于材料电学表征和测量的微型桌面型电学测量台，主要用于介电、压电、铁电、热释电、光电等材料的电学性能表征和测量，还可以在真空、气氛环境下对材料进行电学测量评估，
型号：TSC6510
TSC6510 热激励电流测量系统 TSC6510热激励退极化电流测试系统是一款专门用于测量压电陶瓷退极化电流的专用设备，该系统可以用来解决压电陶瓷高压极化后，表征压电陶瓷高温退极化电流随温度变化的关系，最小空载电流可达到0.5PA，得到清
型号：RMS1000I
RMS1000I系列 阻温特性测试系统 RMS1000I系列阻温特性测试系统是一款专门用于评估材料导电性能的装置，该系统不仅可以精确评估压电陶瓷的导电性能，还可以评估压电陶瓷在高温、空气、流动气 氛、真空气氛等条件下电阻率随温度、时间变化的
型号：FEMS-2180
FEMS-2180 高低温铁电测量系统 FEMS-2180高低温铁电测量系统主要用于高低温、真空条件下测量材料的铁电性能，可以测量和显示铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等参数，
型号：TSC6520
TSC6520 热激励电流测量系统 TSC6520热激励电流测量系统是一款专门用于测量压电陶瓷热激烈电流的专用设备，该系统是在客户一致认可的TSC6510的基础上升级而成，不仅可以测量压电陶瓷的热激励退极化电流TSDC，还可以测量热激励极化
型号：CSC
CSC系列 半导体材料电学测量系统 CSC系列半导体材料电学测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley 4200-CSC半导体参数分析集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量有机半导体器件、纳米器件及薄膜材
型号：DMS-500
DMS-500 教学研究型介电温谱仪 佰力博新推出的DMS-500系列教学研究型介电温谱仪添补了目前高校实践教学环节的空白，与以往的教学型设备不同，DMS-500系列教学研究型介电温谱仪按照是教学研究型大学思路开发的，可以让学生熟悉和掌握功