型号：MPT
MPT系列 高通量高压极化仪 MPT系列高通量高压极化仪是在科研用户一致认可的MPD系列压电陶瓷高压极化装置基础上设计而成，强大的功能使其在同类产品中脱颖而出，注重实践导向的设计使其在工作中更加安全、简单、方便、快速。MPT高通量高压极化仪
型号：TRMS-216
TRMS-216 高温热敏电阻测量系统 佰力博TRMS-216高温热敏电阻测量系统主要用于评估热敏电阻材料阻温性，该系统采用两线电阻法或三环电极法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空、气氛的条件下测量热敏电阻材料的阻温（R-T )特性、伏
型号：DCS1000
DCS1000 电介质充放电测试系统 DCS1000电介质充放电测试系统是一种用于表征储能电介质材料充放电特性的试验装置，该装置能够快速测试储能电介质材料在不同电压、不同负载以及不同温度下的充放电特性，以及长期充放电寿命测试，程序直接分析给
型号：PMS1000
PMS1000 压电温谱仪 PMS1000压电温谱仪是在中科院声学所准静态d33的基础上设计开发的，专门用于评估压电陶瓷高温特性的装置，可以直接分析得出样品压电常数d33随温度变化的压电温谱图。相对传统的d33测量仪，PMS系列压电温谱仪出
型号：DMS1000
DMS1000 高温介电阻抗温谱仪 佰力博数十位工程师和用户抽丝剥茧，调整、推翻、解决，让高温介电阻抗温谱仪有了全新定义。全新的DMS1000不仅升级了电极夹具测量平台，可以测量单样品和四样品块体材料；还升级可密封的金属屏蔽加热系统，可以实
型号：FEMS-2160
FEMS-2160 高温铁电测量系统 FEMS-2160高温铁电测量系统主要用于高温、真空条件下测量材料的铁电性能，可以测量和显示铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等参数，能够较
型号：IPEMS
IPEMS系列 逆压电测量系统 IPEMS系列逆压电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和SIOS逆压电功能测量仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜或薄片逆压电材料电学综合性测量系统。该系统可以实现-160
型号：PEAI1000
PEAI1000系列 高精度压电分析仪 PEAI1000高精度压电分析仪是一款采用动态法评估压电材料压电系数d33的专用测量设备，是继中国声学所之后的又一款高精度压电材料压电系数测量设备，**的压电材料参数分析仪采用锁相放大技术，大幅度抑制
型号：MRVS
MRVS系列 石英管真空封管机 佰力博MRVS系列真空封管机系统主要用于实现样品的无氧无水真空密封保存和高温固相合成，整套系统由真空封管机、氢氧机、分子泵机组、石英管、管接头等组成，标准化定制石英管和石英柱保证其与特殊设计的管接头精确匹配，
型号：DMS2000
DMS2000 高低温介电阻抗温谱仪 佰力博DMS2000高低温介电阻抗温谱仪是一款专门用于高低温环境下评估电介质材料介电性能的装置，该系统采用平行板电容器原理并结合D2149-97标准设计开发，新一代介电阻抗温谱仪，不仅可以实现单样品和五
型号：CPS-7000
CPS-7000 低温真空探针台 CPS-7000系列液氮/液氦低温真空探针台是Parutulab佰力博公司匠心打造的一款低温电学测量综合性平台，是一种利用液氮/液氦快速制并为半导体晶圆片、器件、材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子功能材料、超导
型号：CPS-8000
CPS-8000 低温真空探针台 Partulab CPS-8000闭循环低温真空探针台是一款采用可靠的GM制冷技术快速制冷并为晶片、器件和材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等）提供真空和低温测试条件进行非破坏性的电学表
型号：DMS1650
DMS1650 超高温介电阻抗温谱仪 DMS1650超高温介电阻抗温谱仪是在客户一致认可的DMS1000的基础上设计开发的，主要用于电介质材料超高温电学性能研究，最高温度可达1650℃，可实现常温、高温、气氛条件下；可测量介电常数和介电损耗
型号：RMS1000P
RMS1000P系列 高温四探针电阻率测量系统 主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研发，可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗 单晶（棒
型号：FDMS
FDMS系列 薄膜介电测量系统 FDMS系列薄膜介电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Wayne Kerr阻抗分析仪集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜介电质材料的测量系统。该系统可以实现-160℃～400