型号：YTS260
一、基本信息超声扫描显微镜(SAM)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会
型号：YTS510
一、基本信息超声检测系统是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可
型号：T630
一、基本信息T630超声扫描检测系统(SAM)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用超声波对电池进行无损检测，可获得电解液扩散状态、早期产气等多项电池指标。1.1 产品名称超声扫描显微镜1.2 数量1台1.3 规格型号规格型
型号：DXS650
一、基本信息超声检测系统是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可
型号：GSS600
一、基本信息超声扫描显微镜(SAT)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤
型号：YTS530
一、基本信息超声检测系统是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可
型号：DXS2000
一、基本信息超声C扫描显微镜(SAM)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔 、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，
型号：GSS300
一、基本信息超声扫描显微镜(SAT)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤
型号：YTS500
一、基本信息超声扫描显微镜(SAT)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤
型号：GSS700
一、基本信息超声扫描显微镜(SAT)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤
型号：YTS540
一、基本信息超声检测系统是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可
型号：YTS520
一、基本信息超声检测系统是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可
型号：DXC1000
一、基本信息超声检测系统是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可
型号：GSS301
一、基本信息超声扫描显微镜(SAT)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤
型号：DXS800
一、基本信息超声检测系统是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用超声波，对各类器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可