产地：天津
- 仪器介绍近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛，因此，测得薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中，常常使用椭圆偏振法来进行测量。这种方法测量灵敏度和精度较高，并且是非破坏性测量。他能同时测定薄膜的厚度和折射率
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- 仪器介绍此半导体激光器可用于几何光学、干涉、衍射、偏振等光学实验。激光波长：650nm带 宽：0.2nm输出功率：5mW-40mW
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- 仪器介绍钨灯12V35W、钠灯20W，主要应用于迈克尔逊干涉仪中的白光干涉实验。注：本光源在平台和导轨上使用时，需另配磁力表座或滑座
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- 仪器介绍- 实验内容1、光纤光学基本知识演示实验2、光纤与光源耦合方法实验3、多模光纤数值孔径（NA）测量实验4、光纤传输损耗性质及测量实验5、M-Z光纤干涉实验6、光纤温度传感和压力传感原理实验
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- 仪器介绍系统由光源、衍射板组、接收单元、计算机、工作软件、A/D转换器组成。通过计算机界面显示实验结果，可作为GSZ-2型光学平台附件，也可单独作为一个实验。- 产品特点·光电传感器测量光强·高精度的位移传感器—光栅尺测量位移·定量的准
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- 仪器介绍SGY-6型光电倍增管综合实验仪主要研究光电倍增管的基本特性，如暗电流、阴极灵敏度、阳极灵敏度、放大倍数（增益）、光电特性、伏安特性、时间特性、光谱特性等。- 实验内容1、了解光电倍增管的基本特性2、光电倍增管阴极光电特性测试实
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- 仪器介绍F-280型荧光分光光度计是港东公司推出的中端研究型分子荧光产品，产品性能稳定、功能强大，光学设计使产品在精密度和重复性指标上更加突出，是高校、科研院所、质检机构等相关行业的推荐产品。- 产品特点（1） 汇集多种光谱技术
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- 仪器介绍F-180型荧光分光光度计是港东公司推出的通用分析型分子荧光产品，产品性能稳定、使用方便、体积小、性价比高，可对荧光样品进行定性、定量分析，支持单机和联机两种操作模式，适用于资金预算有限且不需要通过电脑控制设备的客户，可用于维C
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- 仪器介绍观察各种干涉现象：等倾干涉、等厚干涉、白光干涉；测定单色光波长、透明介质薄片厚度、镀膜厚度和空气折射率；法布里—珀罗干涉装置、观察多光束干涉锐环，测定邻近光谱线间的波长差，观测光谱线的精细结构。- 实验内容1、观察各种干涉现象：
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- 仪器介绍天津港东科技利用自己二十年傅里叶变换红外光谱仪研发和制造经验，结合世界热重分析仪产品，开发出热重-傅里叶红外（TG-FTIR）联用系统，将 TG 的定量分析能力和 FTIR 的定性分析能力结合为一体，可广泛应用于高分子聚合物、药
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- 仪器介绍SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学
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- 仪器介绍本创新性开放实验组合，不同于以往的整机整套概念的实验设备，而是采用便携式、功能化、模块化设计，提供各个具有独特功能的零部件，由学生或老师自由设计实验方案，选择、搭配、组装各个零部件已完成实验方案。旨在培养学生的主动思考能力，动手
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- 仪器介绍这是一种仪器用的强弧光放电汞灯，管内气体压强高，发光效率也较高，能获取较多和较强的汞光谱线。该灯额定功率为50W。
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- 仪器介绍本仪器采用可移动读数的光电探测器来测量光衍射的光强分布，可自由调节半导体激光器的焦点。- 实验内容1、观察单丝、单缝的衍射现象，测量其光强分布2、验证波长、缝宽与光强的关系3、了解海森堡测不准原理4、验证巴比涅原理
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- 仪器介绍1、厚度100mm2、表面乌光处理，散光效果不刺眼3、台面尺寸从900X600mm到1800X900mm多种规格可选4、优质高导磁不锈钢面板5、表面M6螺孔阵列，方便安装固定器件6、平面度0.05mm/600mm