![]() | 产地:广东 研抛底片采用耐腐蚀、不易生锈的不锈钢材料制作而成,易成型,可根据研磨抛光机型号的不同制成不同直径的圆片,不易变形,可以长期反复进行使用。研抛底片主要用作砂纸、抛光垫的衬底使用,具有一定的平面度和平行度,保证砂纸或抛光织物固定在研磨抛光盘上时 |
![]() | 型号:TR100 产地:广东 TR100袖珍式表面粗糙度仪是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化设备,其集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计,构成适应当今设备发展趋势的超小型的体系结构,可完成粗糙度参数的采集、处理和显示 |
![]() | 产地:广东 陶瓷、玻璃、晶体等脆性材料研究成套设备-高级系列包括了**研发的SYJ-200H手动快速切割机和GPC-100A精确磨抛控制仪,可以快速而准确地掌握制备精度。同时,配备的SYJ-400划片切割机还可进行精准的划槽切割,UNIPOL-1200 |
![]() | 型号:MSK-330A 产地:广东 MSK-330A精密点焊机是广为流行的交流脉冲点焊机,是根据镍镉、镍氢、锂电池所需而特殊设计的,采用微电脑单片机控制,性能更加稳定可靠,而用于柱状电池负极壳与极耳的焊接。MSK-330A精密点焊机操作视频产品型号MSK-330A精密点焊机主 |
![]() | 型号:CIP-150MA 产地:广东 CIP-150MA实验型冷等静压机是把制品放置于盛满液体的密闭容器中,在高压的环境下,通过对其各个表面施加相等的压力使得制品的密度变大,并得到所需的形状,广泛应用于粉末冶金、复合材料、耐火材料、陶瓷、硬质合金的成型。产品型号CIP-150M |
![]() | 型号:TH220 产地:广东 TH220邵氏硬度计为数显邵氏A型硬度计,适用于软塑料(如热塑性塑料、硬树脂、尼龙、有机玻璃等)、硬橡胶及其它相关化工制品(如防腐材料、阻燃材料、油漆涂料等)的硬度测量,具有测值准确,操作简单,携带方便,造型美观等优点。产品型号TH220邵 |
![]() | 产地:广东 加热台主要用于VTC-600-2HD双靶、VTC-600-3HD三靶磁控溅射仪及GSL-1800X-ZF4蒸发镀膜仪的样品台的加热。 |
![]() | 型号:PM200 产地:广东 PM200金属圆片冲孔仪配套电镜领域无失真投射电子显微镜(TEM)样品制备。产品通过冲压金属薄片,得到需要的样片,降低了人工制造的难度与减少了制备时间。产品制备直径3mm圆片,主要用于具有延展性且韧性较好的金属材料。PM200金属圆片冲孔仪 |
![]() | 型号:SKCC-TFB-X 产地:广东 SKCC-TFB-X高真空磁控溅射永磁靶头(条形方靶)适用靶材种类较广,如金属/绝缘靶或磁性/非磁性靶材。配装有环形永磁体在靶头上,以保证溅射镀膜的效率和均匀性。可与DC或RF电源配合使用。产品型号SKCC-TFB-X(高真空条形方靶)产品 |
![]() | 型号:STX-100QX 产地:广东 产品简介:STX-100QX型金刚石曲线切割机,它是针对市场的需求而设计的,也是我公司首台使用金刚石线对非金属材料进行曲线切割的设备。当加工的材料不导电而需要采用线切割的加工方式时,电火花线切割机床失去效果,为此金刚石线切割机便开始显现其加 |
![]() | 型号:VTC-100PAH 产地:广东 VTC-100PAH真空旋转涂膜机适用于半导体工艺、晶体、光盘、制版及表面涂覆等工艺,可用于强酸、强碱涂覆溶液。样件固定采用真空吸附方式。使样件取放自如,操作简单。电机启动快速度稳定,可以保证涂层厚度的一致性和均匀性。VTC-100PAH真 |
![]() | 型号:SKCC-ZZB-X 产地:广东 SKCC-ZZB-X高真空磁控溅射永磁靶头(自旋转靶头)适用靶材种类较广,如金属/绝缘靶或磁性/非磁性靶材。配装有环形永磁体在靶头上,以保证溅射镀膜的效率和均匀性。可与DC或RF电源配合使用。产品型号SKCC-ZZB-X(高真空磁控溅射自旋 |
![]() | 型号:500CIP-60MAF 产地:广东 500CIP-60MAF超高压冷等静压机是把制品放置于盛满液体的密闭容器中,通电后液体对样品各个表面施加的压力是相等的,在高压的环境下,使得制品的密度变大,样品颗粒的间隙变小,并得到所需的形状。随着科学技术的进步及我们对粉末材料的深入研究, |
![]() | 型号:SFM-280T 产地:广东 产品简介:SFM-280T加热型磁力搅拌器可以在磁力搅拌的过程中同时对液体进行加热,最高加热温度可达280℃,满足了绝大多数实验的要求。搅拌器盘面采用不锈钢陶瓷涂层,更耐热耐腐蚀。加热时具有过热保护功能,当加热盘表面超过320℃后会自动切断 |
![]() | 型号:SGC-10 产地:广东 SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消 |