无损检测仪3D Micro-CL
产品概要
高分辨率三维显微CL(Computed Laminography)系统(3D Micro-CL),采用倾斜扫描方式解决了传统CT无法对板状物体进行高分辨率扫描成像的问题,具有自由度高、放大比可调、大视野、高分辨、快速重建等优点,可用于芯片封装、电路板、板状化石等物体的2D/3D无损检测。设备可应用于电子信息、航空航天等领域。
产品特性 | 性能参数 |
大视野拼接成像 | GPU加速重建 | 辐射自屏蔽室、安全联锁 | 气孔率计算功能 |
| 检测尺寸 | 330mm × 330mm | | 扫描模式 | 二维透视成像(DR) 三维断层扫描(CL) | | 能量范围 | 40 – 160 kV | | 空间分辨率 | 二维透视成像(10%MTF-229lp/mm) 三维断层成像(优于10μm) | | 样本类型 | 芯片、化石、电路板、材料 |
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产品发布日期:2026.02.02