AFM检测性能的全新定义
适合更宽应用领域的最高性能的大样品AFM成像
◆ 对所有AFM样品提供最高性能的测量
◆ 提供更广泛的AFM模式与应用
◆ 提供定量的纳米材料性能图谱
◆ 由创新的峰值力模式实现
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的AFM大样品平台为基础，齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行全面革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平，现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。
Dimension® Icon™优秀的图像分辨率，与Bruker特有的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处于行业××地位，最新的Dimension® Icon™是针尖扫描技术的又一次革新，配置温度补偿位置传感器，实现了Z轴亚埃级和XY轴埃级的低噪音水平，将其应用在90微米扫描范围的大样品台体系上，效果甚至优于高分辨小样品台AFM的开环噪音水平。全新设计的XYZ闭环扫描头，即使在较高的扫描速度工作时，也不会损坏图像质量，实现了更大的数据采集输出量。
终极体验
◆ 独特的传感器设计，在闭环条件下，也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平，且具有极高的扫描分辨率
◆ 极大地降低噪声水平，在轻敲模式下低于30pm，接触模式下可获得原子级图像
◆ 热漂移速率低于200pm/分钟，获得真正的样品图像
高效率
◆ XYZ闭环扫描器的完美设计，使仪器在较高扫描速度工作时，也不降低图像质量，具有更大的数据采集效率
◆ 将十年的研发经验融入到参数预设置中，在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
◆ 高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置
全功能
◆ 针尖和样品之间开放式的空间设计，不仅可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，满足不同研究工作的需求
◆ 硬件和软件技术的不断创新，新开发的HarmoniX 模式，可以测量纳米尺度上材料性质
◆ 用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析
技术参数：
| X-Y scan range X-Y方向扫描范围 | 90µm x 90µm typical, 85µm minimum 90µm × 90µm 典型值，最小85µm |
| Z range Z方向扫描范围 | 10µm typical in imaging and force curve modes, 9.5µm minimum 在成像及力曲线模式下典型值为10μm；最小9.5μm |
| Vertical noise floor 垂直方向噪音基底 | < 30pm RMS in appropriate environment typical imaging bandwidth (up to 625Hz) < 30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz) |
| X-Y position noise(closed-loop) X-Y定位噪音(闭环) | ≤0.15nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz) ≤0.15nm RMS，典型成像带宽(达到625Hz) |
| X-Y position noise(open-loop) X-Y定位噪音(开环) | ≤0.10nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz) ≤0.10nm RMS，典型成像带宽(达到625Hz) |
| Z sensor noise level(closed-loop) Z传感器噪音水平(闭环) | 35pm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz); 50pm RMS, force curve bandwidth (0.1Hz to 5kHz) 35pm RMS，典型成像带宽(达到625Hz); 50pm RMS，力曲线成像带宽(0.1Hz to 5kHz) |
| Integral nonlinearity(X-Y-Z) 整体线性误差(X-Y-Z) | < 0.5% typical < 0.5% 典型值 |
| Sample size/holder 样品尺寸/夹具 | 210mm vacuum chuck for samples, ≤210mm diameter, ≤15mm thick 210mm 真空吸盘样品台；夹具，直径 ≤210mm, 厚度 ≤15mm |
| Motorized position stage (X-Y axis) 电动定位样品台(X-Y轴) | 180mm × 150mm inspectable area; 2µm repeatability, unidirectional; 3µm repeatability, bidirectional 180mm × 150mm可视区域; 单向2µm重复性; 双向3µm重复性 |
| Microscope optics 显微镜光学系统 | 5-megapixel digital camera; 180µm to 1465µm viewing area; Digital zoom and motorized focus 五百万像素数字照相机; 180µm至1465µm可视范围; 数字缩放及自动对焦功能 |
| Controller 控制器 | NanoScope V NanoScope V型控制器 |
| Workstation 工作站 | Integrates all controllers and provides ergonomic design with immediate physical and visual access 整合所有控制器、结合人体工学设计，提供直接的物理或可视接口 |
| Vibration isolation 振动隔绝 | Integrated, pneumatic 整体式气动减震台 |
| Acoustic isolation 声音隔绝 | Operational in environments with up to 85dBC continuous acoustic noise 可隔绝环境中85 dBC的持续噪音 |
| AFM modes AFM模式 | Standard: ScanAsyst, PeakForce Tapping, TappingMode (air), Contact Mode, Lateral Force Microscopy, PhaseImaging, Lift Mode, MFM, Force Spectroscopy, Force Volume, EFM, Surface Potential, Piezoresponse Microscopy, Force Spectroscopy; Optional: PeakForce QNM, HarmoniX, Nanoindentation, Nanomanipulation, Nanolithograpy, Force Modulation (air/fluid), TappingMode (fluid), Torsional Resonance Mode, Dark Lift, STM, SCM, C-AFM, SSRM, PeakForce TUNA,TUNA, TR-TUNA, VITA |
| Certification 认证 | CE |