型号:CT G5 产地:上海 由于其5.0 µm的特殊光谱范围,optris CT G5型高温测温仪非常适用于玻璃温度的测量,例如:玻璃容器生产线、汽车玻璃生产或太阳能电池生产。红外测温仪配有极小的不锈钢测头,且无须冷却可耐高达环境温度85°C。高温测温仪的多重安装,例 |
型号:CTlaser MT 产地:上海 optris CTlaser MT型红外测温仪红外测温仪具有特殊测量波长,通过200°C至1,650°C的火焰进行准确的温度测量。因此,它非常适合监测烤箱中的工件 , 在化学反应器中进行测量和在窑炉中测试耐火衬里。不锈钢测头采用高精度双激光 |
型号:optris PI 产地:上海 新开发的显微镜头专门设计用于电子板的热检查和分析小至 28 μm 的芯片级组件。测量目标与热像仪之间的距离可在 80 至 100 mm 之间变化。主要参数可分析小至 28 μm 的芯片级组件;可同时进行测试和红外成像的免提操作;镜头可更换、 |
型号:P20 LT 产地:上海 optris P20 LT系列便携式红外测温仪的温度量程为0 °C ~ 1300 °C,使其适合于工业用温度测量。由于其光学分辨率为120:1,可为距离12米的高达100毫米的物体提供高精度的测量结果。optris P20 LT型便携式测温 |
型号:CThot LT 产地:上海 optris CThot LT型高温测温仪专为高温区域的恶劣条件下而设计,因其特别耐高温而备受好评。在高达250°C的环境温度下使用红外测温仪,无须冷却,也不会出现问题。由于上述特点,红外测温仪特别适用于干燥机、金属和玻璃工业回火,塑料和纺 |
型号:PI 05M 产地:上海 新开发的Optris®PI 05M热像仪的光谱范围为500至540 nm,可减少由于未知或变化的发射率导致的测量误差。 由于光谱范围以及900至2000°C的连续测量范围,PI 05M红外热像仪非常适合液体金属的温度测量。1kHz的帧率以及 |
型号:CT P7 产地:上海 由于其特殊的光谱区域为7.9µm,创新的optris CT P7型高温测温仪非常适用于测量薄塑料材料的温度。例如:聚对苯二甲酸乙二醇酯、 聚氨酯、聚四氟乙烯、PA或CTA。此高温测温仪的准确测量温度量程为0°C到710°C,其测头无须冷却可 |
型号:CSlaser G5HF 产地:上海 optris CSlaser G5HF型红外测温仪专为用于平板玻璃线、玻璃容器机、灯泡、汽车玻璃和太阳能电池的温度测量。其标准化的双线接口提供了可靠的测量数据传输,可将温度传感器轻松集成到西门子可编程逻辑控制器中。红外测温计还配备了创新的双 |
型号:CTvideo 3M 产地:上海 optris CTvideo 3M型红外视频测温仪非常适用于可耐50°C起的金属和复合材料的低温测量的低温测量。视频模块和激光瞄准镜的并行使用,即使测量对象位于难以到达的区域,也可轻松准确标记测场。测量参数温度量程1)(通过软件测量)50° |
型号:PI 400i/PI 450i 产地:上海 optris PI 400i / PI 450i是同类产品中以小巧著称的红外热成像仪。配备有80赫兹的测量速度和382×288象素的光学分辨率,提供高速实时热成像图像。PI450高分辨率红外热像仪,拥有40 mK高热灵敏度,特别适合用于检测 |
型号:MS LT, MSplus LT, MSpro LT 产地:上海 精巧的optris MS LT、MSplus LT和MSpro LT便携式激光测温仪的温度量程分别为-32 °C ~ 420 °C和530 °C~760 °C。它们允许快速瞄准很细小的物体,通过单点激光瞄准能够更容易瞄准测量对象。optri |
型号:CSlaser hs LT 产地:上海 optris CSlaser CSlaser hs LT型红外测温仪适用于温差变化0.025°C起的测量,例如,持续监督产品同质性的重要作用。此外,红外测温仪配备了双激光瞄准镜,以准确标记测场,并且各种示波器可确保各种产品的高适应性。测量参 |
型号:CT 3M 产地:上海 由于其测量波长短和50°C的温度量程,optris CT 3M型高温测温仪非常适用于金属和复合材料的低温测量。只有1 ms的快速响应时间可以在快速过程中无故障使用金属测温计。测量装置的电子盒可灵活终端装置通过可选的模拟输出以及各种可选的数字 |
型号:PI 640i G7 产地:上海 optris® PI 450i/640i G7 红外热像仪 是PI系列中玻璃行业专用热像仪。 专为玻璃工业而设计,本热像仪仅在一个光谱范围内进行测量。Optris热像仪的典型参数 - 高测量速度(80 Hz)、高光学分辨率(640 x 48 |
型号:PI 08M 产地:上海 新研发的 optris® PI 08M 热像仪的光谱范围为 800 nm,可减少因未知或变化的发射率引起的测量误差。这款红外热像仪结构紧凑,由于其光谱范围以及 575 °C 到 1900 °C 的连续测量范围,几乎适用于所有的 NIR 和 |