型号：N8062B
产地：上海
N8062B为信号调理卡，可将400VDC或280VAC电压调理至±5V。具有电压范围宽、线性度高、抗干扰能力强、稳定度高，方便集成等特点，可配合N8062A数据采集卡使用。性能特点：■ 电压输入范围：0-400VDC，0-280VAC ■
型号：N8352
产地：上海
N8352系列高精度双通道可编程电池模拟器为针对便携式电池供电产品（如蓝牙耳机、手机、AR/VR智能终端、电动工具等）研发与测试而设计的专用测试仪器。电流双向流动，电流工作状态和负载工作状态可快速切换。采用触控屏设计，UI设计友好，操作便捷
型号：N8130
产地：上海
N8130充放电测试卡为NGI公司针对超级电容、电池研发和生产而自主设计开发的新一代专用测试仪器。采样速度高达1mS，充转放过程无缝切换，N8130完全满足超级电容、电池充电容量、放电容量、充电等效串联内阻、放电等效串联内阻、能量转换效率、
型号：NSC2000
产地：上海
锂离子超级电容自面世以来便以高功率密度、极低的自放电、工作温度范围广、安全性和可靠性等优点备受关注。近年来，随着锂离子超级电容器产品技术的不断成熟，其在ETC、储能、高端机床、消费类电子等行业开始广泛应用，市场对锂离子超级电容的需求快速增长
型号：N8361-20-10
产地：上海
N8361系列 高精度可编程电池模拟器N8361系列电池模拟器是一款功率可达200W的高性能电池模拟器，覆盖了市场上主流消费类电子产品用锂电池规格。N8361系列延承NGI电池模拟器多功能高性能软件平台，支持电源模式、充电模式、电池模拟、内
型号：N8050B
产地：上海
N8050B为4通道交流电流测量卡，可同时测量4通道电流。隔离强度高、大电流输入、高精度、高稳定度、便于集成，适用于强电测量场合。性能特点：■ 4通道交流测量 ■ 测量量程：0-10AAC ■ 测量精度：0.1% ■ 分辨率：0.5mA(&
型号：N8051B
产地：上海
N8051B为交/直流电压、交流频率综合测量卡，具有高输入阻抗、宽电压、高精度、高稳定度与方便集成等特点。性能特点：■ 测量量程：0-400VDC，0-280VAC，频率20Hz-10KHz ■ 测量精度：直流0.05%，交流0.5%，频率
型号：N3918
产地：上海
3918是一款小功率、多通道、高精度多通道线性直流电源，单机达8个通道，所有通道负极共地。N3918编程软件具有多通道批量操作功能，各通道可分别显示数据及曲线图表，提供数据分析与报表功能，操作简洁、灵活易用，能满足多通道、多参数、复杂测试环
型号：N8358
产地：上海
N8358为一款小功率、高精度、多通道的可编程电池模拟器。采用双象限设计，电流可充可放，不仅可满足BMS测试需求，支持多种故障模拟，还可满足消费类电子产品ATE测试。N8358单台8个通道，可满足四工位测试需求，通过编程软件可分别设定各通道
型号：N8063A
产地：上海
N8063A为可编程多通道静态模拟电压电流源卡，可广泛应用于各种采集测量系统的校准、测试和各类传感器信号的模拟，采用NGI**的NXI架构，配合N8000系统和上位机软件，可实现模拟电压或电流的输出。N8063A既可在N8000系统中使用，
型号：N8050C
产地：上海
N8050C为4通道直流电压测量卡，可同时测量4通道电压。隔离强度高、高电压输入、高精度、高稳定度、便于集成，适用于强电测量场合。性能特点：■ 4通道直流测量 ■ 测量量程：±60VDC/±600VDC ■ 测量精度：0.1% ■ 最小分辨
型号：N6112
产地：上海
N6112系列多通道可编程直流电子负载为NGI公司基于多年电源、电池等相关测试应用经验而开发一款高精度、高可靠性、高集成度、高性价比、全功能（恒电流、恒电压、恒功率、恒电阻）多通道可编程直流电子负载产品。本产品为集成应用量身定制，具备通讯速
型号：N3600
产地：上海
N3600系列宽范围电源为NGI公司基于多年电池波动模拟测试、电池充电器、高压超高速二极管、电解电容、机电控制领域以及ATE测试系统等相关测试应用经验而开发的一款高压宽范围可编程直流电源产品。针对实验室测试、系统集成测试、产线规模等领域不同
型号：N8064A
产地：上海
N8064A可编程多通道电阻卡支持最多6通道/8位分辨率的可编程电阻。针对不同的应用场合，灵活的设计架构允许板卡支持12位、16位或24位分辨率，以及更大的电阻值。N8064A非常适合模拟阻性传感器和用作系统测试仿真，允许用户在设计阶段或生
型号：N5600
产地：上海
N5600系列电池充放电测试系统是针对锂离子、镍氢、镍镉、超级电容器等电池、电化学材料的通用性测试而研制的一款测试系统。适用于产品研发、产品测试、品质检测、生产分选等环节。夹具设计丰富多样，不仅支持18650、21700等典型电池封装测试，