型号：TH6731/TH6732/TH6733/TH6741/TH6742/TH6743
TH6700系列是一款单路输出、宽范围可编程开关直流电源，有输出功率为360W、720W以及1080W的三种机型。用户可以实现主从串联2台或者主从并联3台TH6700电源，满足更高的输出电压和输出电流需求。TH6700系列具有可调斜率功能，
型号：TH9201S
TH9201S八通道交直流耐压绝缘测试仪是一种为客户精巧设计的电气安规测试仪器。精简和紧凑的结构、成熟的技术。全新的结构和操作界面使操作和使用都更简便。包含更多实用的功能。TH9201S产品可广泛应用于变压器、设备、元器件特别是绕线元件的安
型号：TH9520/TH9520A
TH9520/A综合分析系统在单机内实现交流耐压、直流耐压、绝缘电阻、匝间绝缘测试、直流低电阻、电感量(TH9520A选配)测试六大功能。针对线圈类元器件需要的测试项目如安规耐压、匝间绝缘、绕线电阻值、线圈电感量(TH9520A选配)，以前
型号：TH9320S8
TH9320-S系列交直流耐压绝缘测试仪是一款小功率经济型智能安规测 试仪器。体积小、重量轻、外形美观、操作简便。TH9320-S系列产品可 广泛应用于家用电器、变压器、电气设备、元器件的安全性能检查。性能特点耐压测试: AC: 5kV/0
型号：TH1773
TH1773型直流偏置电流源（也称直流磁化电源）主要用于电感,变压器线圈进行电感测量时施加直流偏置电流，对该类仪器除需达到所需电流外，还需有对电感量测量影响小，频率响应宽（叠加直流电流时可使用高频LCR表进行测量）等要求。该产品通过微处理器
型号：TH6900
产品详情TH6900系列是宽范围输出的可编程开关直流电源，有750W、1500W、3000W三种功率21个型号可选。仪器支持同型号主从并联最多达10台，从而满足更高的输出电流和输出功率需求。TH6900系列支持序列测试功能，允许用户设置一系
型号：TH1941
TH1941型 4 1/2位真有效值数字多用表及TH1942型50,000读数数字多用表是一种多功能、高性价比的电压/电流/电阻测试仪器。仪器可以比同档产品高数倍的测量速度进行稳定测量。提供21,000/51,000字最大读数，0.03%/
型号：TH2810B
数字电桥 TH2810B型LCR数字电桥是一种测试速度快、精度高、测试范围宽的通用阻抗测量仪器。 四个测试频率点，最高至10kHz, 30Ω 、100Ω两种不同信号源输出阻抗可使仪器测量结果与众多LCR结果相一致，同时也能适应陶瓷电容器对测
型号：TH2638C
TH2638 是用于陶瓷电容生产测试的一款电容表。TH2638 可用于在频率 100Hz，120Hz， 1kHz，10kHz，40kHz, 100kHz，1MHz 和测试信号电平（0.1V ∼1V）对陶瓷电容作出评估。 TH2638 可提供
型号：TH2681A
TH2681A型绝缘电阻测试仪是一种通用的、指针指示、能满足各种电子元件、介质材料、整机等绝缘性能测试的仪器，具有测试速度快、稳定性好、操作方便、不良判别功能等特点。适用于生产线质量保证、进货检验及实验室测量的要求。性能特点绝缘电阻测试范围
型号：TH1991C/TH1991B/TH1991A/TH1991/TH1992B/TH1992A/TH1992
TH199X系列高精度源表TH1991/TH1992系列精密源/测量电源，可同时输出并测量电压和电流，在仪器中集成了电流源、电压源、电压表、电流表功能，各功能可任意切换。TH1991/TH1992系列精密源/测量单元可输出高达±210V直流
型号：TH2827C
TH2827C是具有多种功能和更高测试频率的新型LCR数字电桥，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率最高1MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试
型号：TH1778A
TH1778A 直流偏置电流源采用高性能微处理器，能提供单台 0～20A 的恒流输出，并可连接从机提升最大输出电流至 0～120A，具有优良的可裁剪性及可扩展性，同时配备能与本公司各型 L 表及 LCR 电桥直接连接的测试接口，适用于磁性电
型号：TH8601A/TH8601
TH8601系列四端线材综合测试仪是专用于各种线缆，线束和排 线品质及连接可靠性检验的多功能，自动化的线材综合参数测试 系统。该系统提供可编程的恒流恒压源以及高压源，测试项目涵盖了导通，被动元件（电感，电阻，电容，二极管），交直流耐压，绝缘
型号：TH2828S
TH2828/TH2828A/TH2828S是采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的阻抗测试仪器。其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz-1MHz的频率范围及高达100MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测试要求，特别有利于低D