型号：FMP30
在奥氏体或双相钢必须承受高温、侵蚀性物质以及高压的情况下，铁素体含量至关重要。特别是涉及到化工厂、能源设施及工厂中的现场测量时，FISCHER 手持式设备的优势将非常显著。为 FERITSCOPE FMP30 提供多种探头，通过这些探头，即
型号：SIGMASCOPE SMP350
SIGMASCOPE SMP350 是一款结构紧凑的手持式设备，适用于测定非铁磁性金属（如铝或铜）的电导率。通过测得的电导率能够进一步得出与热处理材料的硬度与强度相关的结论。从而建立热损伤与材料疲劳的证据。为此仪器使用了相敏涡流法。该方法经
型号：RMP30-S
该便携式设备采用 4 点电阻法，十分适合测量多层电路板上薄镀层的厚度。这种电路板上的多层铜镀层通常被环氧树脂等绝缘体隔开。SR-SCOPE 的优势是利用电阻法测量不会受到其他层的影响，因此能够精确测定上层面铜层的厚度。特性：易于使用的手持式
FISCHER通过GOLDSCOPE系列仪器，为无损的黄金和贵金属测试提供定制化解决方案。这些耐用的X射线荧光仪器，其软硬件均为珠宝黄金行业而设计。专注于重要的功能，在控制成本的同时仍只采用广受认可、高质量的组件。特点紧凑且耐用的台式仪器，
型号：PMP10
PMP10 采用相位敏感测量技术，适用于测量粗糙底材上的涂镀层厚度或钢上的镀镍层厚度。对于汽车行业，必须测量铝或镀锌钢板上油漆涂层厚度，而 PMP10 DUPLEX 是此类应用的理想解决方案。该设备可通过单次测量精确测定各涂层的厚度，从而节
型号：SEMI
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一款全自动测量系统。针对半导体行业复杂的 2.5D/3D 封装应用中的微结构质量控制进行了优化。全自动分析可避免损坏宝贵的晶圆材料。此外，统一的测试条件能够提供可靠的测量结果。该
型号：fische
FMP10 系列手持式涂镀层厚度测量设备可提供精确的测量结果，多种测量技术使其具有高度的灵活性。包括采用磁感应测量 (DELTASCOPE®)、电涡流测量 (ISOSCOPE®) 或同时结合两种方法 (DUALSCOPE®) 的多种型号。通
型号：ST200
FISHERSCOPE® ST200是菲希尔台自动化表征硬质涂层的划痕测试仪。可以简便地测试厚度≥1um涂层的粘合力和结合强度。仪器十分适用于研发、质量控制、来料检验和生产监控等领域。 特点多种加载模式，包括渐进式、恒载式加载按照下述标准进
探测器 (SDD) 以及微聚焦射线管；以及各种不同组合的准直器和滤波器，是完成严苛测量任务的理想之选。例如，借助 XDV 设备，您可以测量仅 5 nm 厚的镀层厚度及分析其元素成分，还可以对仅 10 µm 结构的工件进行测试。特性借助高性能
型号：XAN 220
XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出特性：操作简单且性价比高。自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品广泛适用：为各个行业的典型需求
Fisher™ 3570 气动阀门定位器Product DescriptionFisher 3570 气动阀定位器与控制阀组件配合使用，从而提供与从控制设备接收的输入信号成比例的准确阀杆位置。 这些定位器通常与气动活塞执行机构配合使用。 不
型号：ISCHERSCOPE MMS PC2
模块化测量系统 FISCHERSCOPE MMS PC2，搭载 Windows™ CE 操作系统，是适用于高精度涂镀层厚度测量与材料测试的理想解决方案。具备通过 LAN 与 USB 连接实现联网的功能，因此可以快速地集成至质量管理系统和自动
型号：XUV® 773
XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线，因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此，该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。
型号：POROSCOPEHV5
塑料保护涂层可使包装保持无菌，适用于医疗产品或真空包装食品。例如：用于保护箱体、船体或管道免受腐蚀的塑料或搪瓷涂层。POROSCOPE 系列，作为一款坚固耐用的便携式测量设备，非常适合快速、简便地测试非导电保护涂层，甚至可发现极其细微的小孔
型号：POROSCOPEHV20
塑料保护涂层可使包装保持无菌，适用于医疗产品或真空包装食品。例如：用于保护箱体、船体或管道免受腐蚀的塑料或搪瓷涂层。POROSCOPE 系列，作为一款坚固耐用的便携式测量设备，非常适合快速、简便地测试非导电保护涂层，甚至可发现极其细微的小孔