型号：CS9916BSI
产地：南京
性能特点采用5.6寸TFT(640*480）显示设置参数及测试参数，显示内容醒目、丰富。测试仪可把测试结果以EXCEL表格的格式存储在U盘中。可通过U盘进行软件升级。可调高压上升、下降时间，可适应不同测试对象要求。测试结果可同步保存，支持详
型号：CS9974CX-AC
产地：南京
性能特点可设定电压缓升时间，自动寻找被测试绝缘材料的击穿点电压。输出频率可选：50Hz/60Hz。具有真实电流测试功能。具有无线遥控功能。输出模式：正常模式和梯度模式。标配PLC接口，RS232/RS485/USB通讯可选。技术参数型号CS
型号：CS9933S
产地：南京
性能特点本系列程控耐压测试仪均采用高速MCU和大规模数字电路设计的高性能的安规测试仪，其输出电压的大小、输出电压的上升、下降、输出电压的频率完全由MCU控制，能实时显示击穿电流值和电压值，并具有软体校准功能，配备PLC接口、RS232C，并
型号：CS9950SI-8L
产地：南京
性能特点对设备金属部件与保护接地端子之间精密测量。恒流输出：输出电流不受负载和市电的影响，保证测试数据的准确、可靠。线性功放驱动：测试仪采用DDS原理产生标准的正弦波送给性功放驱动输出，波峰因数在1.3～1.5范围内。输出频率可供选择：测试
型号：CS9963BSI
产地：南京
性能特点采用5.6寸TFT(640*480）显示设置参数及测试参数，显示内容醒目、丰富。测试仪可把测试结果以EXCEL表格的格式存储在U盘中。可通过U盘进行软件升级。可调高压上升、下降时间，可适应不同测试对象要求。测试结果可同步保存，支持详
型号：CS9950CGS
产地：南京
性能特点 ◆恒流输出：输出电流稳定率范围在 1%内，避免因输入电源电压不稳及负载变化而使输出电压变化，测量结果不准确。 ◆具有开路报警功能。 ◆采用四端法测量，消除接触电阻的影响。᠋
型号：CS9950CSI
产地：南京
性能特点采用5.6寸TFT(640*480）显示设置参数及测试参数，显示内容醒目、丰富。采用四端法测量，消除接触电阻的影响。电流恒流源输出。测试自动稳定控制系统。测试仪可把测试结果以EXCEL表格的格式存储在U盘中。可设置电阻偏移。具有电阻
型号：CS18011ASI
产地：南京
性能特点采用 TFT5.6 寸 640*480 彩色液晶屏显示设置参数和测试参数，显示内容丰富醒目 。直流输出 1.000kV/100mA 的情况下保证纹波电压有效值小于3% 。直流测试时充电电流报警值和测试漏电流报警值分别设置 。直流电流
型号：CS9916ASI
产地：南京
性能特点采用5.6寸TFT(640*480）显示设置参数及测试参数，显示内容醒目、丰富。测试仪可把测试结果以EXCEL表格的格式存储在U盘中。可通过U盘进行软件升级。可调高压上升、下降时间，可适应不同测试对象要求。测试结果可同步保存，支持详
型号：CS2675CX-1
产地：南京
性能特点◆时间,测试电压,测试电流同时显示◆相位自动转换◆越限声光报警◆符合GB4706.1-2005（IEC60335-1：2004）GB4943-2011（IEC60950-1:2005）GB8898-2011（IEC60065:200
型号：CS9919BSI
产地：南京
性能特点采用5.6寸TFT(640*480）显示设置参数及测试参数，显示内容醒目、丰富。测试仪可把测试结果以EXCEL表格的格式存储在U盘中。可通过U盘进行软件升级。可调高压上升、下降时间，可适应不同测试对象要求。测试结果可同步保存，支持详
型号：CS9917AM
产地：南京
性能特点◆ 采用5.6寸TFT(640*480）显示设置参数及测试参数，显示内容醒目、丰富。◆ 测试仪可把测试结果以EXCEL表格的格式存储在U盘中。◆ 可通过U盘进行软件升级。◆ 可调高压上升、下降时间，可适应不同测试对象要求。◆ 测试结
型号：CS9917AX
产地：南京
性能特点◆ 具有安全防电墙功能，能自动检测输入电源是否正确◆输出高压可变频，范围40.0～400.0Hz，分辨率0.1Hz。可作为可变高压源使用◆ 直流耐压测试完成，测试仪能在0.2秒内快速放电，保护操作者的安全◆ 具有电流下限报警功能，在
型号：CS2675W
产地：南京
性能特点◆时间，测试电压，测试电流同时显示◆相位自动转换◆ 越限声光报警◆ 符合 GB4706.1-2005 标准技术参数型号CS2675W（需外接隔离稳压电源）泄漏测试 工作电压AC：0～250V±5%±2个字泄漏电流
型号：CS9912Y
产地：南京
性能特点◆ 具有安全防电墙功能，能自动检测输入电源是否正确◆输出高压可变频，范围40Hz-400Hz◆ 直流耐压及绝缘电阻测试完成后，测试仪能在0.2秒内快速放电，保护操作者的安全◆具有电流下限报警功能，在测试时可防止测试线开路对被测元器件