型号:HRS-150/45X 产地:上海 产品介绍 “奥龙芯”悬臂式全洛氏硬度计HRS-150/45X为台式洛氏硬度计,采用洛氏(ROCKWELL)测量原理,用于碳钢、合金钢、铸铁、有色金属及工程塑料等材料的硬度检测,采用国际中先进的闭环式传感器控制技术,实现了全自动控制和硬度 |
型号:A-5XC 产地:上海 产品介绍A-5XC倒置金相显微镜是一款经济实用型显微镜,其性价比高,在国内、外得到广泛的应用。使用专业的金相物镜及平场目镜,成像质量好,分辨率高,观察舒适;长距离平场消色差物镜,物镜距样品的距离长,不和样品干涉;最大放大倍数:1000倍(干 |
型号:DUM-**W 产地:上海 产品介绍主机采用油缸下置式主机,间隙密封油缸、四立柱、双丝杠框架结构(俗称六立柱)。由于采用四立柱框架结构,做大尺寸试样压缩试验时,主机结构稳定性极好。上试验空间用于拉伸试验,下试验空间可用于试样的压缩、弯曲和剪切试验(需增加相应辅具)。下 |
型号:AMG-1 产地:上海 主要特点:AMG-1砂带磨样机(双)是我公司依据国际先进制样方法,精心设计制造的又一款新型制样设备,采用砂带进行研磨,根据需要可随时更换不同号数砂带,更换便捷。替代砂轮机,预磨抛光机。手工砂纸研磨,每道砂带只需1-2分钟即可完成操作。如对光 |
型号:AMP-1S 产地:上海 主要特点:AMP-1S型是一种集预磨、研磨、抛光于一身的无级调速的研磨抛光机。它可根据用户需要自行调整所需的转速(50-1000/分钟)。该机是玻璃钢外壳,外观漂亮,转数高。如同时选用我公司生产的MPT-1半自动磨抛头(φ22、& |
型号:A-41X 产地:上海 产品介绍该显微镜采用半复消色差物镜、无限远色差校正光学系统,其图像质量与进口显微镜相当,是国产金相显微镜中***显微镜之一。总放大倍数: 50 -1000倍光学系统:无限远色差校正光学系统(CSIS),像质更好,分辨率更高,观察更舒适;物镜 |
型号:MXHRS-150 产地:上海 MXHRS-150触摸屏数显塑料洛氏硬度计产品介绍 MXHRS-150数显塑料洛氏硬度计是一种专门测试非金属材料,如塑料、硬橡胶、合成树脂、摩擦材料及较软金属的硬度计。 功能特点●采用自动加卸试验力机构 ●外照明光源,可清晰看清所测试 |
型号:AMP-2S 产地:上海 主要特点:本磨抛机为触摸屏双盘台式机,可两人同时操作使用,适用于对金相试样进行预磨、研磨和抛光操作。本机通过变频器调速,可直接获得50~1000转/分钟之间的转速,从而使本机具有更加广泛的应用性。是用户用来制作金相试样必不可少的设备。本机带 |
型号:DVU 产地:上海 产品介绍该系列液压结构,同时配备2把,试样缺口一次加工成型,操作极为简单可靠,加工出的V型缺口和U型缺口(2mm)可满足GB/T229-2007《金属材料夏比摆锤冲击试验方法》及ASTM、EZ3、ISO148等国内外标准要求;由于一次拉削加 |
型号:AP-2C 产地:上海 产品介绍AP-2C金相试样抛光机是对AP-2金相试样抛光机的不完善处进行针对性的设计改进,该机除保持原AP-2的抛盘直径与传动功率均大于国内同类产品外,结合广大使用人员的建议和要求,增加了在抛光时作稀释冷却用的供水系统,并该机的外形更新颖美 |
型号:HRS-150/45X-Z 产地:上海 产品介绍:“奥龙芯” 全自动凸鼻子洛氏硬度计为大平台洛氏硬度计,采用洛氏(ROCKWELL)测量原理,用于碳钢、合金钢、铸铁、有色金属及工程塑料等材料的硬度检测,“奥龙芯” 平台升降凸鼻子洛氏硬度计采用国际中先进的闭环式传感器控制技术,实现 |
型号:AP-2D 产地:上海 主要特点:AP-2D型金相试样抛光剂具在P-2T型抛光机的基础上做进一步改进,由原台式结构设计为柜式结构,同时具有转动平稳,噪音小,操作维修方便等优点和单盘单控之优势,可同时两人进行工作。柜式机构对使用人员带来极大的方便,是试样抛光的**设 |
型号:AT1100 产地:上海 产品介绍AT1100里氏硬度计超薄壳体,尽在掌握,适应多种冲击装置和6种硬度制式转换,大而清晰的数字电池,可充电锂离子电池,支持USB充电,可选的上位机软件,具有完善的数据库功能。支持数据查询、数据存储、统计特征显示、柱状图显示通过按键选择 |
型号:TMP-2B-220 产地:上海 主要特点:本磨抛机为双盘双控制台式机,适用于对试样的粗磨、精磨和抛光操作,可同时供两人工作。本机采用微处理系统,双盘都可单独直接获得50-1000转/分钟之间的转速和150与300转/分钟的两级定速,从而使本机具有更广泛的应用性,本机具有冷 |
型号:AT3100 产地:上海 产品介绍AT3100具有独特的温度补偿算法,支持10点基本校准、温度校准、零点校准、两点校准等多种校准模式,采用了磁性和涡流两种侧厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;分体(传感器与仪器 |